Перейти к основному содержанию

Поиск по словарю

Язык содержимого

Информация о концепции

На этом языке нет термина для этой концепции.

方法 > 顕微鏡検査 > 走査型顕微鏡検査 > scanning electron microscopy (en)

Предпочитаемый термин

scanning electron microscopy (en)  

Определение

  • Information Çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlar kullanarak örnek yüzeyini tarama sonucu yüksek çözünürlüklü ve üç boyutlu görüntü alınmasını sağlayan bir elektron mikroskobu türü.

    Источник: http://terim.tuba.gov.tr/

    Создано: 5/9/23

     (tr)
  • Information Scanning electron microscopy is a characterization technique that images and analyzes a specimen by scanning an accelerated electron beam, followed by selectively collecting and recording secondary electrons, back-scattered electrons, and other signals arising from the beam and specimen interactions.

    Создано: 4/27/23

     (en)

Концепция более широкого понятия

На других языках

URI

http://aims.fao.org/aos/agrovoc/c_a87b3af2

Скачать концепцию

RDF/XML TURTLE JSON-LD Создано 27.04.2023, последнее изменение 30.09.2024