Skip to main

Concept information

მეთოდი > მიკროსკოპია > მასკანირებელი მიკროსკოპია > მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპია

Término preferido

void:inDataset: http://aims.fao.org/aos/agrovoc/void.ttl#Agrovoc

Creado: 2023-09-13T22:06:59

skos:notation: a87b3af2

მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპია  

Definición

  • Information Çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlar kullanarak örnek yüzeyini tarama sonucu yüksek çözünürlüklü ve üç boyutlu görüntü alınmasını sağlayan bir elektron mikroskobu türü. (tr)
  • Information Scanning electron microscopy is a characterization technique that images and analyzes a specimen by scanning an accelerated electron beam, followed by selectively collecting and recording secondary electrons, back-scattered electrons, and other signals arising from the beam and specimen interactions.

    Creado: 4/27/23

    (en)

En otras lenguas

URI

http://aims.fao.org/aos/agrovoc/c_a87b3af2

Descargue este concepto:

RDF/XML TURTLE JSON-LD Creado 27/4/23, última modificación 30/9/24